我們的技術

如何實現

深度分析。 深度數據。 深度見解。

1

分析

晶片設計過程中,為不同規格的設計建立上百種可能的製造變體模型,創建一個完整的生產視圖,並提供對晶片校能、功率和參數良率的見解。

2

Agents

晶片設計過程中,基於自動化和全面的設計分析,將Agent無縫地嵌入電路而不造成任何損失,從而為晶片分析、健康和效能創造高覆蓋率的新數據。

3

學習

在Tape-Out之後和晶片量產之前,生成上百種製造模型變體的設計模擬數據,上傳到軟體平臺,由機器學習演算法進行處理。

4

見解

在晶片和系統量產期間以及終端應用產品運作階段,分析Agent所讀取數據,進行數據融合,並由軟體平臺提供可操作的見解和警示。

一份數據洞察世界

深度數據分析

基於雲端資料分析平臺的可操作見解和警示

不良率降低10倍

異常檢測而不會影響良率

預測性維護

發生故障前發出故障警示


提高良率

更快地檢測系統問題

新產品介紹

具有更高的確定性,更快的量產時間

製程前後相關比對

矽成品與設計模擬之間的相關比對

提前精準分級

晶圓測試階段實現高解析度分級

降低客退率提高處理速度

精確的來源識別,實現故障早期檢測

效能調校

邊際餘量可透視性可用於預測性設計,生產和部署

通用晶片遙測技術™

通用晶片遙測(UCT)是一種新的標準,基於嵌入式Agent,對通過性能監控、質量、可靠性和成本測量的值進行量化。它在產業價值鏈創造了一個通用的檢測標準。UCT結果級別由Agents整合的覆蓋率和種類決定。

proteanTecs 的 Agents

針對不同電路設計量身訂制並自動產生監控IP 由多方位的Agent檢測結果創造的大量新數據融合在一起,提供前所未有的可透視性。

Agent類型

分類和分析

將晶片分為不同「 Families」,即具有相似參數行為的晶片分類。它們的表徵在不同電壓和溫度條件下,以及晶片變形過程中(不論在晶圓上,還是系統封裝或組裝後)均保持不變。「Family不變性」是相關性比對、良率和品質提升以及快速、準確進行性能分級的內在核心基礎。

性能表現和衰退監控

在晶片正常運作的同時,進行對數十億條路徑的延遲測量,監控實際應用所表現的性能和衰退模式。Agent可以檢測由於老化、可靠性問題、隨時間推移而發展出的潛在缺陷、以及因為環境和工作負載影響而形成的潛在故障。

運作感測

檢測出由元件運作或環境引起的事件,並解析其健康及效能問題的來源。結合具性能監控的運作狀態以及Family相關性分類,提供了晶片前所未有的完整覆蓋率和精準的早期危險提示。

絕對的高覆蓋率


負擔

任何應用皆可

深入
任務模式


干擾

100%
安全

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